二硫化钨XRD图

二硫化钨XRD图即二硫化钨(WS2)的X-射线绕射分析,利用一种功能强大的非破坏性分析技术,侦测WS2晶的特性。XRD提供结构、相位、首选的晶体取向(纹理)和其他结构参数分析,例如平均粒度、结晶度、张力和晶体缺陷等等。

二硫化钨XRD图纳米颗粒二硫化钨XRD图

左图为二硫化钨XRD图;右图为纳米颗粒二硫化钨XRD图。

更多信息>>

1.钨粉

2.粉末电子目录

3.金属粉末冶金术语

如果您对我们的产品感兴趣,请随时联系我们:
邮箱:sales@chinatungsten.com
电话: +86 592 5129696 / 86 592 5129595
传真: +86 592 5129797